VXI数模混合信号集成电路测试系统。由4片pe 电路组成，每片电路提供8路高速可编程i/o(含有高速8驱动/比较(窗口比较)器)。高速通道板中提供每路4bit(f、d、m、r)最大4m深度的测试向量存储器，r存储器可用于存储失效结果也可用于存储响应向量，便于自学习法及逻辑分析。测试向量存储器采用通用12-15ns大容量sram。 高速通道板中设计有算法图形产生器(apg)，产生14行x14列(64m)图形地址，用于动态ram，静态ram，flash ram等存储器测试。可产生(walk，march ，check，adcom，bfly，dualwc，galpat，slid，rccgal ，masest，imag，rtick，pm2check)13种测试图形。 板中还设计有active seriesscan模式，可将并行数据转为串行数据，每模块最大串行存储深度为32m1如果将模块串行数据级联，最大串行存储深度为256m。系统硬件资源中，pg、tg均设计为每一测试周期可编程(on the fly)，且具有较多的tg沿。能够满足ic验证cad到cat测试时序匹配要求。由于设计了active seriess